TG10系列测厚仪介绍

2017-09-23 21:56:59 techmach 1049

TG10S-X膜材测厚仪、TG10M-X-L片材测厚仪、TG10L板材测厚仪本测厚仪采用国际上最新的核物理探测技术,信号采集及厚度控制由工业计算机集中管理,测量精度高,可长期连续运行,故障率低,可定制各种规格测厚仪。广泛应用于CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC流延生产线、压延生产线厚度测量及控制。

适合产品:CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC等膜材、片材、板材。

TG10S-I系列红外线涂层测厚仪

该系列测厚仪采用红外线反射接收技术测量涂层厚度,可应用于各种胶粘涂层的测量和控制,应用范围广泛,涂层的底材可以是纸张,牛皮纸,离型纸和塑料薄膜。

适合产品:水性胶粘涂层、油性胶粘涂层、热熔胶粘涂层、压敏胶粘涂层等。

TG10S-N系列特征激光谱涂层测厚仪

该系列测厚仪采用特征激光谱技术测量涂层厚度,可应用于特征激光谱可穿透的各种材料测其涂层厚度。适应于各类超高精度的涂层厚度在线测量场合。

适合产品:隔离膜陶瓷涂层等。

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