TG10S-I系列红外线涂层测厚仪

该系列测厚仪采用红外线反射接收技术测量涂层厚度,可应用于各种胶粘涂层的测量和控制,应用范围广泛,涂层的底材可以是纸张,牛皮纸,离型纸和塑料薄膜。

     该系列测厚仪采用红外线反射接收技术测量涂层厚度,可应用于各种胶粘涂层的测量和控制,应用范围广泛,涂层的底材可以是纸张,牛皮纸,离型纸和塑料薄膜。

适合产品:水性胶粘涂层、油性胶粘涂层、热熔胶粘涂层、压敏胶粘涂层等。

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性能参数表

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测量原理

射线测量原理

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射线发生器将射线投射到被测基材,一部分被基材吸收, 一部分刺穿过被测基材后被探测器接收,系统分析射线的强度变化及被测基材的厚度相关特性,计算出被测基材的面密度及厚度。射线在穿透被测材料时,其强度呈指数规律衰减,其衰减公式为:I=I0 e-μh, I为穿过物体后的射线强度,I0为初始射线强度,μ为衰减系数也叫吸收系数,h为被测材料厚度。

对于不同的材料,其μ值是不同的,因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的μ值。一般而言密度越大的材料其μ值就越大,比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的,相应的射线阻挡能力就越强。


激光测量原理

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激光测厚仪是基于三角测距原理,使用集成式的三角测距传感器测量出从安装支架到物体表面的距离,进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。当被测物的厚度发生变化后,激光发生器发射的激光照射到被测物,经反射后照射到激光接收器上的位置将发生位移变化,通过几何计算便可知被测物厚度的变化量,并将厚度信号以数字或曲线方式输出。

测厚时上下两个激光位移传感器对射并分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,计算后得到被测体的厚度(如上图:被测体厚度h=L-A-B)。


特征激光谱测量原理


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特征激光谱测量塑料基材上的涂层技术采用的是特征激光谱测量技术,特征激光谱发生器将激光投射到被测基材,一部分为被测基材吸收,一部分刺穿过被测基材后被探测器接收,系统分析接收到的激光强度变化及被测基材的厚度相关特性,计算出被测基材的面密度及厚度。

具体计算公式为:I=I0e-gμh, I为穿过物体后的接收到的激光强度,I0为初始激光强度,μ为线质系数,g 为材料密度,h为被测材料厚度。


红外线测量原理

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各类胶粘涂层对一些特定波长的红外光表现出强烈的吸收特性,当用这些特定波长的红外线照射在涂层物料时,红外线会被涂层物料特定成分吸收部分能量,含特定的成分越多吸收也越多,系统分析接收到的红外线强度变化及被测涂层的厚度相关特性,计算出被测涂层的面密度及厚度。


行业定制软件

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● 智能操作,使用简单

● 实时显示测量数据

● 强大的图标功能:实时厚度图、重叠数据曲线图、区域数据曲线图、


纵向/横向3D趋势图


● 基于数据库的专业数据记录及管理

● 可全程追溯,海量数据存储,数据保存时间达3年

● 模板功能可根据不同工艺配方设定测量参数,随时调用

● 具备定点测量功能

● 自动启停传感器及扫描功能


通信及总线接口


● 可与MES系统进行通信

● 可通过总线方式将上位机与局域网连通,进行数据交换

● 支持PLC、以太网、RS485、RS232等总线接口


模头自动APC


● PLC自动调节控制模头的热膨胀螺栓调节点

● 控制调节精度±0.2%(FS),小于等于扫描测试精度

● 模头控制调节系统与主机光纤通讯

● 螺栓加热趋势图在主机显示屏、模头位置副显示屏均可显示

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